OES-801型全譜直讀光譜分析儀體積更小，穩(wěn)定性好、檢測(cè)限低、分析速度快、運(yùn)行成本低、操作維護(hù)方便，是您產(chǎn)品質(zhì)量控制的理想選擇。 可適用于檢測(cè)：鐵 (Fe) 、鋁(Al) 、銅(Cu) 、鎂(Mg) 、鋅(Zn) 、鎳(Ni) 、鈦(Ti) 、錫（ Sn)、 鉛(Pb)等基體產(chǎn)品。激發(fā)—次20秒，可精確檢測(cè)基體內(nèi)所有元素含量。
產(chǎn)品介紹
OES-802型全譜直讀光譜分析儀采用臥式造型，體積更小，穩(wěn)定性好、檢測(cè)限低、分析速度快、運(yùn)行成本低、操作維護(hù)方便，是您產(chǎn)品質(zhì)量控制的理想選擇。 可適用于鑄造、冶煉、機(jī)械、航空航天、環(huán)保、高校科研等行業(yè)加工中質(zhì)量控制與元素含量分析。
產(chǎn)品參數(shù)
應(yīng)用領(lǐng)域 | 鑄造、 機(jī)械、 科研、 商檢、 汽車(chē)、 石化、 造船、 電力、 航空、 核電、金屬和有色冶煉、 加工和回收業(yè)中的各種分析 |
可檢測(cè)基體 | Fe、 Al、 Cu、 Mg、 Zn、 Ni、 Ti、 Sn、 Pb……等 |
光學(xué)系統(tǒng) | 帕邢—龍格羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng)；半潛式真空室入射透鏡清洗裝置；入射狹縫的微位移裝置，高精度反鍍膜入射狹縫，10微米 |
檢測(cè)波長(zhǎng)范圍 | 120-800nm |
羅蘭圓半徑 | 400mm |
色散光柵 | 高性能全息衍射光柵 |
探測(cè)器 | 高性能CCD陣列（單塊高達(dá)3648像素，最大58368像素） |
光源類(lèi)型 | 數(shù)字光源，高能預(yù)燃技術(shù)(HEPS) |
放電頻率 | 100-1000HZ |
放電電流 | 1-100A等離子體電流 |
環(huán)境溫度 | 外部10-30°(內(nèi)部恒溫控制34°c) |
檢測(cè)時(shí)間 | 一般15-25s左右 |
電極類(lèi)型 | 鎢電極噴射電極 |
工作電源 | AC220V (±10%) , 50/60HZ ,10A , 1.0KVA |
其它功能 | 軟件自動(dòng)控制真空監(jiān)測(cè)，內(nèi)部洹溫監(jiān)測(cè)，通訊檢測(cè) |
儀器尺寸 | L800*W655*H366mm |
儀器重量 | 約70Kg |
公司官網(wǎng)：https://sesyq.cn
